德國(guó)IRUBIS通用型ATR晶體技術(shù)分析

德國(guó)IRUBIS通用型ATR晶體技術(shù)分析

一、品牌與產(chǎn)品概述

IRUBIS是一家專注于過程分析技術(shù)的德國(guó)企業(yè)，其通用型ATR（衰減全反射）晶體是光譜分析系統(tǒng)的核心組件。該產(chǎn)品設(shè)計(jì)用于各種光譜分析儀器，能夠在不同實(shí)驗(yàn)條件下提供穩(wěn)定的檢測(cè)性能。

二、產(chǎn)品系列與型號(hào)

1、主要產(chǎn)品系列

? 中紅外光譜儀

? ATR附件模塊

? 流通池系統(tǒng)

? 在線監(jiān)測(cè)裝置

? 光譜分析軟件

? 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品

2、通用型ATR晶體主要型號(hào)

? ATR-UNI-100（基礎(chǔ)型）

? ATR-UNI-200（高溫型）

? ATR-UNI-300（高壓型）

? ATR-UNI-400（耐腐蝕型）

3、技術(shù)參數(shù)

? 晶體材料：鋅硒復(fù)合材料

? 折射率：2.4

? 光譜范圍：800-4000 cm?1

? 最大耐壓：0.5 MPa

? 溫度范圍：5-90℃

? 樣品體積：≥50 μL

? 表面硬度：莫氏硬度7級(jí)

? 光程長(zhǎng)度：2.0 μm

? 尺寸：50×20×10 mm

? 重量：約25 g

三、工作原理

ATR晶體基于內(nèi)反射光譜原理。當(dāng)紅外光束以大于臨界角的角度入射到晶體內(nèi)部時(shí)，會(huì)在晶體與樣品界面發(fā)生全反射，形成消逝波。該波會(huì)穿透樣品表面微米級(jí)深度，被樣品吸收后形成特征光譜，通過檢測(cè)器接收信號(hào)進(jìn)行分析。

四、性能特點(diǎn)

1、適用范圍較廣

可檢測(cè)多種類型的樣品，包括液體、膏體和某些固體樣品。

2、維護(hù)相對(duì)簡(jiǎn)便

晶體表面較易清潔，多數(shù)情況下用溶劑擦拭即可完成維護(hù)。

3、穩(wěn)定性較好

采用整體成型工藝，在常規(guī)實(shí)驗(yàn)條件下能保持性能穩(wěn)定。

4、兼容性較強(qiáng)

可與多種品牌的光譜儀配合使用，適配常見的儀器接口。

5、成本可控

在保證性能的前提下，提供了相對(duì)合理的價(jià)格定位。

五、應(yīng)用領(lǐng)域

1、化學(xué)品分析

用于有機(jī)合成反應(yīng)過程的中間體監(jiān)測(cè)和終點(diǎn)判斷。

2、制藥行業(yè)

原料藥和制劑生產(chǎn)過程中的質(zhì)量監(jiān)控。

3、食品檢測(cè)

食用油品質(zhì)分析、乳制品成分檢測(cè)等應(yīng)用。

4、材料研究

高分子材料表面特性和組成分析。

5、教學(xué)實(shí)驗(yàn)

高校化學(xué)、材料等專業(yè)的教學(xué)演示和實(shí)驗(yàn)研究。

六、使用注意事項(xiàng)

1、晶體保護(hù)

避免與硬物接觸，防止刮傷晶體表面。

2、清潔要求

使用后及時(shí)清洗，避免樣品殘留影響后續(xù)檢測(cè)。

3、溫度控制

在允許的溫度范圍內(nèi)使用，避免急冷急熱。

4、壓力管理

不超過額定壓力范圍，防止晶體受損。

5、存儲(chǔ)條件

建議放置在干燥環(huán)境中，避免潮濕環(huán)境影響光學(xué)性能。