赫爾納供應瑞士PS Prozesstechnik粒子測量

赫爾納供應瑞士PS Prozesstechnik粒子測量

赫爾納供應瑞士PS Prozesstechnik粒子測量XPT-C

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PS Prozesstechnik粒子測量主要產品：

1. 粒子測量設備

2. 粒子計懸浮液

3. 穩定性分析儀

PS Prozesstechnik粒子測量產品型號：

l XPT-C

l XPT-P

l XPT CP

l XPT

PS Prozesstechnik粒子測量產品特點：

PS Prozesstechnik粒子測量XPT – CP

尺寸 300 x 300 x 120mm 加上振動溜槽附件

重量：8公斤+5公斤

外殼材料：不銹鋼，振動通道陽極氧化鋁

電源 115/230V

PS Prozesstechnik粒子測量產品應用：

XPT - 通過動態圖像分析測量粒度

PS Prozesstechnik粒子測量XPT-C 演示在線測量粉末和懸浮液中的粒度、顆粒形狀、數量、粒度分布。功能原理非常簡單：就像顯微鏡每秒拍攝 30 張圖像，粒子流流過顯微鏡，同時軟件對所有粒子進行全面評估。整個過程根據 ISO-13322-2 被稱為動態圖像分析. 使用具有極短曝光時間或超短光脈沖照明的 CCD 相機，即使是快速移動的粒子也能產生清晰的圖像。完整的系統包括帶有探頭 (XPT-P) 或流通池 (XPT-C) 的基本設備、計算機和軟件。該軟件通過強大的并行化針對快速圖像處理進行了優化。

PS Prozesstechnik粒子測量帶有用于懸浮液的流通池 (XPT-C) 的設備變體還可以配備用于熔體測量的可加熱測量池。另一種選擇是用于在線區分無定形和結晶顆粒的偏振光。通過添加帶有振動通道的附件并更換測量單元，該設備還可用于粉末測量 (XPT-CP)。XPT-CV 系統適用于粉末工藝中的在線使用：采用文丘里系統的樣品抽吸系統將樣品在閉合回路中從工藝過程中通過測量單元并再次返回。XPT-P 探頭可以直接在過程中進行測量（例如管道、鍋爐）。

PS Prozesstechnik粒子測量XPT-PR 帶振動通道

功能原理：探頭浸入產品流中或安裝在產品流上方的規定距離處。像場由來自探頭的入射光照亮。圖像由探頭中的 CCD 攝像頭記錄，立即連續評估，結果在軟件中連續顯示和記錄。

附加模塊振動通道：通過將探頭安裝在附加模塊中，可以檢查流過的粉末中是否有顏色變化的顆粒（例如白色粉末中的深色顆粒）。

PS Prozesstechnik粒子測量完整的系統由帶攝像頭的不銹鋼探頭和氙氣閃光燈或高性能 LED 照明、控制單元、PC（筆記本電腦，也封裝無風扇）和軟件組成。

PS Prozesstechnik粒子測量XPT - CP 粒度儀，帶流通池，用于粉末測量

PS Prozesstechnik粒子測量粒度測量粉末

功能原理 XPT-CP：顆粒通過由圖像處理軟件控制的振動通道輸送到溜槽中。它們落入內置 CCD 攝像頭的圖像平面，記錄的圖像立即連續評估，結果連續顯示并記錄在軟件中

完整的系統由帶攝像頭和高性能 LED 照明的不銹鋼外殼、流通池、振動通道、控制單元、PC 和軟件組成。